聚芴半导体是一类重要的发光聚合物，被广泛应用于聚合物发光二极管、有机激光等领域，但其光电性能呈现复杂的聚集态结构依赖性，从而影响光电器件的性能和稳定性。
日前，IAM团队解令海教授课题组系统研究了聚芴无规和平面化构象的光物理和荧光各向异性行为。通过PFO和PODPF的β构象薄膜，探索构象转变对于其吸收和发射光谱、薄膜形貌、发射衰减行为和荧光各向异性的影响。通过荧光寿命成像（FLIM）测试中直接获取的二维图像验证了聚芴平面化构象的自掺杂薄膜，且其荧光衰减寿命均低于无规构象的薄膜，首次通过成像直观呈现聚芴半导体β构象薄膜的自掺杂特性。此外，通过荧光各向异性成像（FAIM）表征显示β构象薄膜由于较高的分子链取向而呈现出较高的各向异性。本工作报道的FLIM和FAIM表征为探索共轭聚合物构象转变的本征光物理过程提供了一种有效的途径。
相关成果发表在Journal of Physical Chemistry Letters（Journal of Physical Chemistry Letters, 2018, 9, 364-372）杂志上。该工作由黄维院士团队解令海教授课题组与墨尔本大学Trevor A. Smith课题组合作完成，第一作者为博士生虞梦娜。
该工作得到了国家973项目、国家自然基金项目、六大人才高峰等项目的资助和支持。
文章链接：https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acs.jpclett.7b03148
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